X-Rite представляет новое поколение программного обеспечения NetProfiler

[News_nic]

По информации компании «ВИП-Системы», X-Rite, мировой лидер в области измерения и работы с цветом, представил третий релиз популярного программного обеспечения NetProfiler, которое позволяет проверять и оптимизировать работу портативных и настольных спектрофотометров.

За последние несколько лет, ранняя версия X-Rite NetProfiler стала «стандартом де факто» для оптимизации работы настольных спектрофотометров. NetProfiler версии 3.0 расширяет возможности профилирования таких устройств.

«Мы особенно гордимся нашей новой версией NetProfiler для портативных спектрофотометров, распространяющей преимущества профилирования на новые категории устройств и новые рабочие процессы наших клиентов,» - сказал Ричард Кнапп, Продакт-менеджер по программному обеспечению X-Rite. Он подчеркнул, что в NetProfiler 3.0 увеличена скорость и улучшена стабильность работы на различных конфигурациях персональных компьютеров. Появилась возможность автономной работы с сохранением профиля устройства на внешних и внутренних носителях.

Еще одна особенность Netprofiler 3.0 заключается в том, что он может работать с новыми семействами устройств X-Rite, как, например, прибор со сферической оптикой Ci52.

NetProfiler 3.0 упрощает работу за счет генерации специальных отчетов с информацией о характеристиках прибора, его месторасположение, локальном аудите и сертификации; легкого способа обмена сравнительными данными о цвете с деловыми партнерами в любой точке мира, которые могут использовать различные типы цветовых измерительных приборов; новых керамических калибровочных эталонов, являющихся эквивалентной заменой плиток BCRA-II.

Разработанные в двух вариантах исполнения для настольных и портативных спектрофотометров, новые калибровочные эталоны предлагают значительно улучшенную пространственную однородность, точное позиционирование, и улучшенные характеристики - особенно для приборов с маленькой апертурой. Улучшенные калибровочные эталоны обеспечивают сокращение количества стандартов цвета, оптимизируя процесс профилирования.

Источник: «ВИП-Системы»